ISO 5618-2:2024

مواصفة قياسية دولية   الإصدار الحالي · اعتمدت بتاريخ ٣٠ أبريل ٢٠٢٤

Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) — Test method for GaN crystal surface defects — Part 2: Method for determining etch pit density

ملفات الوثيقة ISO 5618-2:2024

الإنجليزية 25 صفحات
الإصدار الحالي
USD 170.62

مجال الوثيقة ISO 5618-2:2024

This document describes a method for determining the etch pit density, which is used to detect dislocations and processing-introduced defects that occur on single-crystal GaN substrates or single-crystal GaN films.

It is applicable to the defects specified in ISO 5618-1 from among the defects exposed on the surface of the following types of GaN substrates or films: single-crystal GaN substrate; single-crystal GaN film formed by homoepitaxial growth on a single-crystal GaN substrate; or single-crystal GaN film formed by heteroepitaxial growth on a single-crystal Al2O3, SiC, or Si substrate.

It is applicable to defects with an etch pit density of ≤ 7 × 107 cm-2.

الأكثر مبيعاً

GSO 150-2:2013
 
مواصفة قياسية خليجية
فترات صلاحية المنتجات الغذائية - الجزء الثاني : فترات الصلاحية الاختيارية
YSMO GSO 150-2:2020
GSO 150-2:2013 
لائحة فنية يمنية
فترات صلاحية المنتجات الغذائية - الجزء الثاني : فترات الصلاحية الاختيارية
YSMO GSO 2055-1:2020
GSO 2055-1:2015 
مواصفة قياسية يمنية
الأغذية الحلال – الجزء الأول : الاشتراطات العامة للأغذية الحلال
GSO 2055-1:2015
 
لائحة فنية خليجية
الأغذية الحلال – الجزء الأول : الاشتراطات العامة للأغذية الحلال

اعتمدت مؤخراً

ISO 17934:2026
 
مواصفة قياسية دولية
Condition monitoring and diagnostics of machines — Reciprocating compressors
ISO 10451:2026
 
مواصفة قياسية دولية
Dentistry — Contents of a technical file for dental implant systems
ISO 179-1:2026
 
مواصفة قياسية دولية
Plastics — Determination of Charpy impact properties — Part 1: Non-instrumented impact test
ISO 19177-1:2026
 
مواصفة قياسية دولية
Geographic information — Geospatial application programming interface (API) for tiles — Part 1: Core