ISO 8181:2023

مواصفة قياسية دولية   الإصدار الحالي · اعتمدت بتاريخ ١٦ أكتوبر ٢٠٢٣

Atomic layer deposition — Vocabulary

ملفات الوثيقة ISO 8181:2023

الإنجليزية 10 صفحات
الإصدار الحالي
USD 54.45

مجال الوثيقة ISO 8181:2023

This document defines general terms and film growth processes for atomic layer deposition (ALD). ALD technique is classified into conventional time separated ALD and spatial ALD according to the separation between sequential surface reactions of precursors on substrate. Besides planar substrate, ALD can be used for coating on micro-nano particles, which is developed as powder ALD. Some energy enhanced ALD techniques are also included. This document specifies the processes of different ALD methods.

This document applies to the process of ALD. This document does not apply to the deposited materials or specific nanostructures.

This document applies to industrial production, scientific research, teaching, publishing and scientific and technological communications related to ALD.

الأكثر مبيعاً

GSO 150-2:2013
 
مواصفة قياسية خليجية
فترات صلاحية المنتجات الغذائية - الجزء الثاني : فترات الصلاحية الاختيارية
YSMO GSO 150-2:2020
GSO 150-2:2013 
لائحة فنية يمنية
فترات صلاحية المنتجات الغذائية - الجزء الثاني : فترات الصلاحية الاختيارية
GSO 9:2022
 
لائحة فنية خليجية
بطاقات المواد الغذائية المعبأة
YSMO GSO 2055-1:2020
GSO 2055-1:2015 
مواصفة قياسية يمنية
الأغذية الحلال – الجزء الأول : الاشتراطات العامة للأغذية الحلال

اعتمدت مؤخراً

ISO 10295-1:2026
 
مواصفة قياسية دولية
Fire tests for building elements and components — Fire testing of service installations — Part 1: Penetration seals
ISO 7554-2:2026
 
مواصفة قياسية دولية
Surgical instruments — Terms, measuring methods and test methods — Part 2: Methods for determination of basic measures
ISO 7554-3:2026
 
مواصفة قياسية دولية
Surgical instruments — Terms, measuring methods and test methods — Part 3: Test methods
ISO 23693-3:2026
 
مواصفة قياسية دولية
Determination of the resistance to gas explosions of passive fire protection materials — Part 3: Tubular and I-section substrates subject to elastic deformation only